适用于自动化和工业系统 i-系列
KSI i-系列是为了检测晶圆、晶锭和大型样品而设计和制造的新一代超声波检测系统。KSI i-系列产品的机械系统反映了强大的工业和半导体工厂设计能力，集合了终端用户所需要的特点。
KSI i-系列集合了超声波仪器和系统设计长达30多年的开发经验，它的特征包含了强大的机械设计、封闭式双闭环伺服定位系统、多道换能器和数据采集功能。
|
KSI－ 凯斯安i-Ingot型全自动晶锭分析检测系统
 新型KSI i-Ingot适用于对晶锭的无损检测，有了它，晶锭内部的裂缝或杂质就能得到快速检测，晶锭的尺寸可达450mm，检测时间短，也不需要做其它设定。
除此之外，新的检测程序还能防止外界干扰。有了KSI i-Ingot，使用8通道换能器系统能检测小到100μm的孔隙，从而提高效能。
新型KSI i-Ingot的特点：
- 新机器安装方便快速
- 多重换能器系统，数量多达8只
- 检测速度快，图像采集速度快
- 工业标准
- 程序稳定，能防止外界干扰
- 能检测各种晶锭尺寸，安装快速
- 24小时待命
- 根据用户要求定制
|
|
阅读全文...
|
|
KSI - 凯斯安i-Wafer型全自动晶圆超声波缺陷检测系统
i-Wafer系列是一款高端仪器，操作人员可选择接收/拒绝标准，手动或自动检测晶圆。在KSI i-Wafer的探测下，晶圆中的孔隙、分层或者杂质都能被发现。尺寸在450mm的多种晶圆也能进行检测。
新型KSI i-Wafer晶圆缺陷检测系统的主要特点：
- 扫描速度最高达2000mm/s
- 新型换能器
- 高质画面
- 同时使用1只、2只、4只换能器提高效能
- 能发现只有几微米的缺陷
- 能检测200mm、300mm和450mm的晶圆
- 频率范围从10MHz到550MHz
- 最大放大倍数：625倍
- 通过不同的扫描模式灵活应用
- 使用Windows 7 GUI就可简单操作
- KSI 可视软件
- 根据用户需要加以应用
- 高性价比
为客户订制的晶圆托盘
全自动8英吋和12英吋晶圆缺陷检测声扫系统，带晶圆盒、机械手、准直系统和条码识别系统
|
|
|
|
|
|
全自动工业超声波显微镜